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高溫抗開(kāi)裂卷繞試驗(yàn)裝置操作說(shuō)明書(shū)

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KTR011高溫抗開(kāi)裂卷繞試驗(yàn)裝置操作說(shuō)明書(shū)
試樣卷繞
每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形,并將兩端固定。
試棒直徑和卷繞圈數(shù)規(guī)定如下:
a)按1.2a)項(xiàng)制備的試樣、扁平電纜或軟線,表1規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數(shù)。試棒直徑應(yīng)按其短軸尺寸選取,卷繞時(shí)使其短軸垂直于試棒。

 
 
 
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